Mr. MR píše: ↑16. 1. 2024, 7:16
...Taky nechápu jak výrobce komponentu může zaručit životnost 20 let? Jak se simuluje věk? Zářením, teplem, vyšším napětím, testováním kratší dobu a následnou extrapolací, vibracemi, na základě zkušeností s danou technologií z minula?
Kdybyste měli podobné odkazy, moc rád se podívám.
Ten dotaz mi hloupy neprijde, ale je to strasne siroka problematika.
Hodne kvalitnich zdroju najdes z automotive pod heslem
Reliability engineering, nebo celkovou metodiku
DFSS. Pro elektroniku a mechatroniku hledej metody
HALT, HASS (HAST).
Vyborna publikace je "
GMW3172 Handbook" od Larryho Edsona z r.2006, kde je ve ctyrech volne dostupnych dilech shrnuto tricet let zkusenosti se spolehlivosti elektroniky v automotive se zamerenim na metodiku. V navaznosti na predchozi je tam i popis GM metody
CALT.
Hodne zjednodusene zacina se dnes tim, ze rozbijes to vyvijene zarizeni na smysluplne celky. Pro slozitejsi zarizeni jde typicky o uroven komponent, produkt a system. A overujes na kazde urovni zvlast (viz napr. ty reference na
MTBF, MTTF).
Protoze s tim jak roste komplexita, pribyvaji ti vzajemne interakce, nejdriv potrebujes znat alespon zakladni data o jednotlivych dilcich celcich (ne kazdy se chova stejne, viz heslo
Failure Pattern) a pro slozitejsi system budujes nejaky statisticky model (viz heslo
Reliability Block Diagram).
Pro odhad zivotnosti samotneho produktu pak potrebujes skutecne extrapolovat, protoze si nemuzes dovolit testovat po dobu 20 let.
Jenze jednoducha extrapolace kratsich dilcich testu pri provoznich podminkach je problematicka. Problem je, ze ti to v rozumne mire nemusi selhavat ani pri velkych poctech zkousenych kusu - takze neziskas dostatek dat, abys pomoci ruznych dostatecne jednoduchych spolehlivostnich modelu (napr. heslo
Arrhenius model, HTOL) dokazal odhadnout zivotnost.
Proto se testovani akceleruje tak, aby i kratsi test odpovidal delsi dobe realneho zivota. Pristupu je a bylo mnoho - da se akcelerovat zatizenim i vlivy prostredi - elektricke, teplotni, mechanicke vibrace sin/random, staticke, dynamicke. Takze zkousis napr. provoz pri vyssi pracovni teplote, nebo vyssich vibracich, nebo vyssi spotrebe. Nebo vse naraz. Problem spociva v tom, ze nejde akcelerovat do nekonecna a z principu ma kazda akcelerace jiny vliv a prakticky vzdy je nelinearni. A u kombinaci je to uz fakt slozite na druhou, ty jednoduche modely uz prestavaji fungovat a nebo vychazi slozity a nakladny validacni test plan.
Hlavni potiz pri silne akcelerovanych testech ale je, ze zarizeni selhava dost mozna na uplne jine mechanismy selhani, nez potom ve skutecnosti. Pojmy k hledani
Failure Mechanism, DFR-FMEA, PRA. A opet muzes kouknout do Larryho Edsona v aplikacich pro elektroniku s pajenymi deskami plosnych spoju v prostredi s dominantnim zatizenim teplotou a vibracemi.
